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Cálculo de constantes ópticas de películas delgadas de Cu3BiS3 a través del método de Wolfe

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dc.contributor.gruplacNANOTECHspa
dc.creatorMesa, Fredy
dc.creatorBallesteros, V.
dc.creatorDussan, A
dc.creator.googleMesa, F.
dc.creator.googleBallesteros, V.
dc.creator.googleDussan, A.
dc.date.accessioned2016-11-02T20:40:43Z
dc.date.available2016-11-02T20:40:43Z
dc.date.created2014-04-28
dc.date.issued2014
dc.descriptionSe calculó la obtención de las constantes ópticas usando el método de Wolfe. Dichas contantes: coeficiente de absorción (α), índice de refracción (n) y espesor de una película delgada (d ), son de importancia en el proceso de caracterización óptica del material. Se realizó una comparación del método del Wolfe con el método empleado por R. Swanepoel. Se desarrolló un modelo de programación no lineal con restricciones, de manera que fue posible estimar las constantes ópticas de películas delgadas semiconductoras, a partir únicamente, de datos de transmisión conocidos. Se presentó una solución al modelo de programación no lineal para programación cuadrática. Se demostró la confiabilidad del método propuesto, obteniendo valores de α = 10378.34 cm−1, n = 2.4595, d =989.71 nm y Eg = 1.39 Ev, a través de experimentos numéricos con datos de medidas de transmitancia espectral en películas delgadas de Cu3BiS3.spa
dc.description.abstractUsing the Wolfe method, we calculated the procurement of optical constants. These constants, absorption coefficient (α), refraction index of (n) and thin film thickness (d ), are significant in the optical characterization of the material. We compared the Wolfe method with the method employed by R. Swanepoel. To estimate theoptical constants of semiconductor thin films, we developed a constrained nonlinear programming model, based solely, on known transmission data. Ultimately, we presented a solution to this nonlinear programming model for quadratic programming. Through numerical experiments and transmittance spectral data of Cu3BiS3 thin films, we obtained values of a= 10378.34 cm−1, n = 2.4595, d =989.71 nm and Eg= 1.39 Ev, demonstrating the reliability of the proposed method.eng
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.identifier.urihttp://repository.urosario.edu.co/handle/10336/12553
dc.language.isospa
dc.relation.citationEndPage131
dc.relation.citationIssueNo. 2
dc.relation.citationStartPage123
dc.relation.citationTitleUniversitas Scientiarum
dc.relation.citationVolumeVol. 19
dc.rights.accesRightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.accesoAbierto (Texto completo)spa
dc.rights.ccAtribución-NoComercial-SinDerivadas 2.5 Colombiaspa
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dc.source.instnameinstname:Universidad del Rosariospa
dc.source.reponamereponame:Repositorio Institucional EdocURspa
dc.subjectPelículas finas de Cu3BiS3spa
dc.subjectconstantes ópticasspa
dc.subjectmétodo de Wolfe.spa
dc.subject.keywordCu3BiS3 thin filmseng
dc.subject.keywordoptical constantseng
dc.subject.keywordWolfe method.eng
dc.titleCálculo de constantes ópticas de películas delgadas de Cu3BiS3 a través del método de Wolfespa
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dc.type.hasVersioninfo:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.spaDocumento de trabajospa
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