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dc.creatorMesa, Fredy 
dc.creatorDussan, A 
dc.creatorPaez-Sierra, B. A. 
dc.creatorRodriguez-Hernandez, H. 
dc.date.accessioned2016-11-02T20:40:52Z
dc.date.available2016-11-02T20:40:52Z
dc.date.created2014-04-04
dc.date.issued2014
dc.identifier.urihttp://repository.urosario.edu.co/handle/10336/12554
dc.descriptionSe presentan las propiedades eléctricas del compuesto Cu3BiS3 depositado por co-evaporación. Este es un nuevo compuesto que puede tener propiedades adecuadas para ser utilizado como capa absorbente en celdas solares. Las muestras fueron caracterizadas a través de medidas de efecto Hall y fotovoltaje superficial transiente (SPV). A través de medidas de efecto Hall se encontró que la concentración de portadores de carga n es del orden de 1016 cm-3 independiente de la relación de masas de Cu/Bi. También se encontró que la movilidad de este compuesto (μ del orden de 4 cm2V -1s-1) varía de acuerdo con los mecanismos de transporte que la gobiernan en dependencia con la temperatura. A partir de las medidas de SPV se encontró alta densidad de defectos superficiales, defectos que son pasivados al superponer una capa buffer sobre el compuesto Cu3BiS3.
dc.description.abstractHere, we present the electrical properties of the compound Cu3BiS3 deposited by co-evaporation. This new compound may have the properties necessary to be used as an absorbent layer in solar cells. The samples were characterized by Hall effect and transient surface photovoltage (SPV) measurements. Using Hall effect measurements, we found that the concentration of n charge carriers is in the order of 1016 cm-3 irrespective of the Cu/Bi mass ratio. We also found that the mobility of this compound (μ in the order of 4 cm2V-1s-1) varies according to the transport mechanisms that govern it and are dependent on temperature. Based on the SPV, we found a high density of surface defects, which can be passivated by superimposing a buffer layer over the Cu3BiS3 compound.
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoeng
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/2.5/co/
dc.sourceinstname:Universidad del Rosario
dc.sourcereponame:Repositorio Institucional EdocUR
dc.subjectTransporte eléctrico
dc.subjectCu3BiS3
dc.subjectfotovoltaje superficial transiente
dc.subjectdefectos.
dc.titleHall Effect and transient surface photovoltage (SPV) study of Cu3BiS3 thin films
dc.typeworkingPaper
dc.subject.keywordElectric transport
dc.subject.keywordCu3BiS3
dc.subject.keywordtransient surface photovoltage
dc.subject.keyworddefects.
dc.rights.accesRightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.type.spaDocumento de trabajo
dc.rights.accesoAbierto (Texto completo)
dc.type.hasVersioninfo:eu-repo/semantics/publishedVersion
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dc.contributor.gruplacNANOTECH
dc.creator.googleMesa, Fredy
dc.creator.googleDussan, A
dc.creator.googlePaez-Sierra, B. A.
dc.creator.googleRodriguez-Hernandez, H.
dc.title.TranslatedTitleHall effect and transient surface photovoltage (SPV) study of Cu3BiS3 thin films
dc.relation.citationEndPage105
dc.relation.citationIssueNo. 2
dc.relation.citationStartPage99
dc.relation.citationTitleUniversitas Scientiarum
dc.relation.citationVolumeVol. 19


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